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发射器应用--磷源片

 

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源片

GS-278

应用

发射器

编号

9452A

预沉积后表电阻率

4 ohms/Sq.

源片大小

125 X 2.5 mm

预沉积后结点

0

扩散管内径

200mm

 

0

制备

JER1993

新源片在测试或投入使用前必须经过清洗,并且必须经过适当的老化。请参阅产品关于老化程序的说明。在这个过程中,源片须在建议的沉积温度下老化至少16小时,但不超过24小时。
沉积循环

步骤

速率/时间

温度

气体

流量

插入

3"/Minute

750°C

N2 + 1/2% O2

6 lpm

稳定

15 Minutes

750°C

N2 + 1/2% O2

6 lpm

倾斜

5°C/Minute

1100°C

N2 + 1/2% O2

6 lpm

保持

100 Minutes

1100°C

N2 + 1/2% O2

6 lpm

倾斜

5°C/Minute

1000°C

N2 + 1/2% O2

6 lpm

倾斜

5°C/Minute

750°C

O2

6 lpm

拔出

3"/Minute

RT

N2 + 1/2% O2

6 lpm

注意:注意:当硼源所处环境的温度超过600度时,源片之间应该放上硅片防止源片损坏,并且在两端应该分别放置硅片。
特殊说明
特殊说明 1
关于气体流率的建议,是基于各种不同的系统的经验得出的。有些客户发现,增加插入和撤离过程中的气体流率,将进一步减少从炉口回流水分的可能。如果只有一个终板覆盖炉口端盖,或者端盖是松的,这个工艺才会有用。
特殊说明 2
最开始,所需比例的氧气应该混合在载气中,以便开始一系列测试。最终您可以选择适合您可接受的氧气浓度。通常情况下在0.5%和5%之间。磷源片不受氧气影响。
特殊说明3
植入空气湿度的不同会导致方块电阻率的变化。为了减少水分的影响,建议采取以下步骤:
a.预淀积后,在干燥的氮气环境中冷却硅和源片。
b.在不使用时,将源片存储于高温干燥的氮气环境中

 

扩散载体的设计

确保硼源片插槽宽松,插槽过紧可能导致源片的损坏。槽尺寸和载体制造尺寸相关数据参见产品公告的载体设计相关内容。硼源片和磷源片尺寸相同,两种源片的载体允许使用相同设计。

清洗

作为日常的清洁过程,磷源片需用酸蚀以消除异物并露出源片表面。因此,在放入扩散炉之前,源片不需要额外的清洗。如果需要清洗,建议:

  • 室温下稀酸中浸泡15秒
    • TP-250 4:1 HNO3
    • TP-470 10:1 HF
  • 离子化水(DI)冲洗2分钟
  • 离子化水(DI)冲洗1分钟
  • 在清洁罩中保持直到干燥
  • 存储于氮气中

以上程序只是进行初步清理建议。如果源片在老化之后污染,请联系您所在地区的技术代表。

老化

在第一次生产使用之前,磷源片需要有一个初始化或者老化过程。这将确保所有水分蒸发,它使源片实现恒定速率的磷转化。老化在预沉积温度,25 - 50%氧气的氮气环境中进行。高温过程持续几小时,低温过程也会持续24小时之长。关于推荐的老化时间参见第一页。
请记住,磷源片对氧气不敏感。您可以根据需求任意制定你的载气中氧气浓度,以达到最佳效果。
注意:当硼源片所处的温度超过600度时,应该在每两个源片之间放置硅片,且舟的最两端应该放置硅片。

储存

应遵循正确的存储程序,避免磷源片暴露于水分中。正确的储存有助于加强源片的扩散均匀性和寿命,并改善您的设备的电气性能。
对于专用扩散管,我们建议硼源片存储在600°C左右的炉内热区中。保持足够的干燥氮气流过管道,以使回流无法接近源片。如果扩散炉还要用作它用,或不太方便储存硼源片,磷源片应存放在高于200°C的烤箱内。必须不断地往烤箱中充入足够的氮气以阻止室内空气进入烤箱内。
如果源片暴露在空气中或不小心在空气中滞留了相当长的时间,可能会因其吸收的水分影响随后的工艺。但是这也是很容易地修复。只要将源片插入扩散管并在插入温度下保持约15分钟即可。当他们从管中退出时,船也已经准备好了要加工的硅片。